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安規(guī)測(cè)試儀測(cè)試方法

更新時(shí)間:2019-06-24      點(diǎn)擊次數(shù):2933

耐壓測(cè)試方法

對(duì)于電氣產(chǎn)品和零部件使用的電壓,確認(rèn)其是否有充分的介電強(qiáng)度的測(cè)試稱之為耐壓測(cè)試。測(cè)試點(diǎn)為下述3個(gè)。

耐壓測(cè)試點(diǎn)①
電源線 - 已進(jìn)行保護(hù)接地的外殼之間。為了確認(rèn)帶有保護(hù)接地的等級(jí)1設(shè)備等是否具備基礎(chǔ)絕緣的介電強(qiáng)度。

耐壓測(cè)試點(diǎn)②
電源線 - 未進(jìn)行保護(hù)接地的外殼之間。為了確認(rèn)是否具備雙重絕緣或加強(qiáng)絕緣的介電強(qiáng)度。等級(jí)1等級(jí)2均可能有。

耐壓測(cè)試點(diǎn)③
外殼 – 絕緣連接部分。為了確認(rèn)連接部分是否已被電氣性的絕緣隔離(確認(rèn)基礎(chǔ)絕緣)。對(duì)象為帶有被絕緣的連接部分的設(shè)備。

 

絕緣電阻測(cè)試的目的

絕緣電阻測(cè)試的基本思路與耐壓測(cè)試相同,主要區(qū)別如下所述。

•絕緣電阻測(cè)試不是要看其絕緣的強(qiáng)度,而是測(cè)量在測(cè)試電壓下的電阻值。耐壓測(cè)試是確認(rèn)介電強(qiáng)度、絕緣擊穿是否發(fā)生。)

•耐壓測(cè)試是以交流(AC)居多,而僅是測(cè)量電阻成分的絕緣電阻測(cè)試則是直流(DC)

絕緣電阻測(cè)試方法

絕緣電阻測(cè)試點(diǎn):正子與外部露出的金屬表面。
絕緣電阻測(cè)試條件:輸出電壓=500V 判定基準(zhǔn)=5MΩ以上 等
參考: JIS C 8711, JIS C8712

 

保護(hù)導(dǎo)通測(cè)試的目的及測(cè)試條件

保護(hù)導(dǎo)通測(cè)試是確認(rèn)低電阻下是否被可靠地接地的測(cè)試。

主要測(cè)試條件如下。

測(cè)試電流: 2或額定電流的1.5倍其中較大一方
無(wú)負(fù)載電壓: 6V以下
測(cè)試時(shí)間: 根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)(5?10秒, 60秒等)
容許值: 0.1Ω(帶有電源插口的設(shè)備), 0.2Ω(帶有固定電源線的設(shè)備)

保護(hù)導(dǎo)通測(cè)試方法

進(jìn)行保護(hù)導(dǎo)通測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)為保護(hù)接地極與被保護(hù)接地的地方(外殼板、螺絲等)。

 

 

 

 

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